리히터 테스트의 기본 원리
모놀리식 칩이 개발되면서 1978년 스위스 Leeb 박사가 경도 시험 방법을 제안했습니다. 기본 원리는 질량이 있는 충격체가 시험력의 작용에 따라 샘플 표면에 충격을 가하고 충격체는 샘플 표면에서 1mm 떨어진 곳에서 측정된다는 것입니다. 충격 속도와 반발 속도는 전자기 원리를 사용하여 속도에 비례하는 전압을 유도합니다. Leeb 경도값은 충격 속도에 대한 충격체의 반발 속도의 비율로 표시됩니다.
계산식: HL=1000*(VB/VA) 식 중: HL – Leeb 경도값 VB – 충격체의 반발 속도 VA – 충격체의 충격 속도 리브 임팩트 장치
Leeb 경도에는 D, DC, D+15, C, G, E, DL 7가지 유형이 있습니다.
D: 크기: f20*141mm, 무게: 75g. 대부분의 경도 측정에 사용되는 범용형입니다.
DC: 크기: f20*86mm, 무게: 50g. 충격장치는 길이가 짧아 주로 내부 구멍이나 실린더 등 좁은 장소에 사용됩니다.
D+15: 크기: f20*162mm, 무게: 80g. 헤드가 작고 홈이 있는 표면이나 오목한 표면의 경도를 측정하는 데 사용됩니다.
C: 크기: f20*141mm, 무게: 75g. 충격 에너지가 작아 작고 가볍고 얇은 부품과 표면 경화층을 측정하는데 사용됩니다.
G: 크기: f30*254mm, 무게: 250g. 충격 에너지는 크고 측정 표면에 대한 요구 사항은 낮습니다. 크고 두껍고 거친 단조품에 사용됩니다.
DL: 전체 크기: f20*202mm, 무게: 80g. 헤드가 작고 좁은 홈이나 기어 표면의 경도를 측정하는 데 사용됩니다. 특수 형상의 지지링 사용
현장조사를 하다 보면 휘어진 표본을 자주 접하게 됩니다. 곡선 표면은 경도 테스트 결과에 다양한 영향을 미칩니다. 올바르게 작동시키면 시편 표면에 충격이 가해지는 위치가 평면 시편과 동일하므로 지지링이 만능입니다.
단, 곡률이 충분히 작을 경우 평면조건에 따른 변형탄성상태의 차이로 인해 충격체의 반발속도가 낮아져 Leeb 경도 표시가 낮아진다.
따라서 시료의 경우 측정 시 작은 지지링을 사용하는 것이 좋습니다. 곡률반경이 작은 시편의 경우 특수 형상의 지지링 사용을 권장합니다.
